Chụp cắt lớp não giúp phát hiện sớm chứng tự kỷ ở trẻ

Ngày 7 – 6, các nhà khoa học Mỹ tuyên bố công nghệ chụp cắt lớp não có thể giúp phát hiện sớm những thay đổi về mặt chức năng ở trẻ có nguy cơ cao bị chứng tự kỷ ngay từ khi trẻ khoảng 6 tháng tuổi, từ đó giúp dự đoán khả năng mắc trước 2 tuổi.

Trong nghiên cứu mới do các nhà khoa học đến từ Đại học Carolina Bắc (UNC) phối hợp cùng các chuyên gia Đại học Dược Washington thực hiện, các tác giả đã sử dụng công nghệ chụp cộng hưởng từ để kiểm tra khả năng kết nối chức năng não bộ của 59 trẻ 6 tháng tuổi khi các bé đang ngủ.

Nói cách khác, nghiên cứu tập trung kiểm tra cách thức các khu vực khác nhau trong não bộ phối hợp với nhau trong khi thực hiện các nhiệm vụ và cả khi nghỉ ngơi. Những em bé này đều có anh hoặc chị được chẩn đoán mắc chứng tự kỷ.

Kết quả tổng hợp và phân tích cho thấy hệ thống giúp dự đoán được 9/11 trẻ thực sự mắc chứng tự kỷ khi các em 2 tuổi. Các nhà nghiên cứu tin tưởng việc phân tích các hình ảnh chụp cắt lớp não bộ có thể giúp dự đoán chính xác chứng tự kỷ ở nhóm trẻ có nguy cơ cao, tuy nhiên cũng cho rằng cần tiến hành thêm các nghiên cứu trên diện rộng để có kết luận chính xác.

Trong bối cảnh chứng tự kỷ ở trẻ em đang dần trở nên đáng lo ngại với số lượng các ca được chẩn đoán mắc ngày càng tăng thì nghiên cứu này có thể coi là một trong những bước đi mới trong nghiên cứu và điều trị tự kỷ.

Dù việc phát hiện và can thiệp sớm rất hữu ích cho việc cải thiện tình trạng ở trẻ nhỏ nhưng cho đến nay bệnh chỉ được phát hiện khi trẻ bắt đầu có những triệu chứng cụ thể mà chưa có phương pháp nào có thể giúp dự đoán sớm tình hình.

Nguồn: Thông tấn xã Việt Nam